SJ5730國內粗糙度輪廓儀采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，專業測試軸承內外側。

SuperViewW1光學形貌輪廓儀是利用光學干涉原理研制開發的超精細表面輪廓測量儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SJ5730接觸式輪廓粗糙度儀具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數評價功能，能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業的測量需求。

SJ5730精密粗糙度輪廓儀具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數評價功能。

SJ5780輪廓掃描儀可全量程大范圍連續掃描，擁有長達數百毫米的持續爬坡能力，適合大范圍陡坡表面測量，大工件無需翻轉、傾斜調整，就可實現測量。儀器采用高精度導軌系統，導軌直線度高，導軌材料耐磨性好、保證系統穩定可靠工作；高精度、高穩定性、高重復性：分辨力0.001μm，滿足被測件測量精度要求。

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學輪廓度測量儀是以白光干涉技術為原理的白光干涉儀，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測，具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數涵蓋面廣的優點。

中圖SJ5730粗糙度輪廓測量儀集成表面粗糙度和輪廓測量。具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，因此非常適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數評價功能，能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業的測量需求。

除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，光學表面輪廓儀品牌SuperViewW1具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變測量以及表面形貌測量。