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品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價格區間 | 面議 |
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組成要素 | 固體激光器產品及設備 | 產地類別 | 國產 |
應用領域 | 綜合 |
激光測長機將激光應用在接觸式測長機測量上是一種高精度的長度測量方式。采用高精度激光測量系統、精密研磨導軌、高精度溫度環境補償系統、雙向恒測力系統、高性能計算機控制系統技術,實現各種長度參數的高精度測量。
中圖儀器SJ5180激光1m測長機具有精度高、使用方便、功能強等優點,能夠檢定精密量具、精密量規,如塊規、環規、塞規、卡規、螺紋規、花鍵規、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內外尺寸,如齒輪、花鍵、校對棒、非標量規等,具有通用性強的特點。
1、標配功能:
·檢測量塊&塊規:(0.1~1000mm);
·光滑環規:φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞規:φ1~φ220mm;
·螺紋環規:M5~M200(螺距0.8~4mm)
·螺紋塞規:M1~M220(螺距0.25~5.5mm);
·光滑卡規:內卡5~200mm,外卡1~300mm
·千分尺校對桿:25~1000mm;
·塞尺:0.02~1mm
·針規:φ0.1~φ10mm
·三針:0.118~6.585mm;
·兩點內徑千分尺:25~1000mm;
2、可選配功能:
·小型光滑環規:φ0.8~φ5mm;
·螺紋環規:規格M3~M4(螺距0.5~0.7mm)、M200~M450(螺距4.5~6mm);
·光滑錐度環規:φ5~φ200mm(厚度≤50mm);
·光滑錐度塞規:φ5~φ60mm(長度10~100mm);φ60~φ200mm(長度≤50mm);
·螺紋錐度環規:M5~M200mm(厚度≤50mm);
·螺紋錐度塞規:M5~M60mm(長度10~100mm);M60~ M200mm(長度≤50mm);
·鋸齒螺紋、梯形螺紋:M3~M450(螺距0.5~6mm);
·花鍵環塞規/花鍵及標準齒輪(跨棒距測量):內φ10~φ450mm,外φ5~φ450mm,模數0.8~6mm;
·外徑千分尺示值誤差手動校準:25~1000mm;
·數顯及游標卡尺示值誤差手動校準:75~1000mm;
·深度千分尺示值誤差手動校準:0~25、25~50、50~75mm;
·三爪內徑千分尺手動校準:φ6~φ200mm;
·表類(百分表、千分表、杠桿表手動校準);
·數顯半徑規手動校準:R5~R700mm;
·軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸,內外徑尺寸測量;
兩點內徑千分尺校準
檢測齒輪
1. 全程直接測量:
SJ5180激光1m測長機采用激光作為長度方向定位,可進行高精度全行程直接測量。
2. 系統符合阿貝原理,無阿貝誤差:
采用激光作為長度方向定位,激光與測量軸基本在同一軸線,符合阿貝原理,基本消除了阿貝誤差。
3. 高精度、高穩定性:
1)高精度激光測量系統,線性測量精度達到0.5PPM,分辨力達到0.01μm,測量精度高;
2)精密研磨導軌系統,導軌直線度高,導軌材料耐磨性好、保證系統高精度穩定可靠的工作;
3)進口特殊材料制作的高剛性、無變形測桿,保證測試數據的真實采集;
4)采用大理石基座,保證了在頭座及五軸工作臺的移動過程中不會產生變形以及儀器不受外界震動干擾,保證了儀器的穩定可靠;
5)采用緊湊型摩擦驅動結構,保證了頭座移動過程中的穩定性。
4. 雙向恒測力:
1) 雙向恒測力系統,減小了測力對測量結果的影響,保證了較高的系統測量精度;
2) 測力手動連續可調;
3) 測力傳感器原理避免了儀器臺面不水平及周圍環境振動帶來的測力誤差。
5. 智能化管理與檢測軟件系統:
1)儀器操作界面友好,操作者很容易即刻基本掌握儀器操作,使用十分簡便;
2)10多年積累的實用檢定軟件設計經驗,向客戶提供簡潔、實用、快速的操作體驗;
3)集成眾多長度標準、規程,功能強大、自動處理數據、打印各種格式的檢定報告,自動顯示、打印、保存、查詢檢定記錄;
4)測量范圍廣,可滿足絕大多數類型的量規、量塊等長度參數測量;
5)軟件配備快速找拐點指示功能,方便客戶快速便攜地找到被測件的拐點;
6)純中文操作軟件系統,更好的為國內用戶服務;
7)打印格式正規、美觀。檢定數據可存檔,或集中打印,不占用檢定操作時間;
8)本儀器采用計算機大容量數據庫儲存,可自動記錄保存所有檢定結果。
6. 高性能五軸工作臺:
1)X,Y,Z三軸采用高性能交叉滾子導軌:摩擦力極小,穩定性好,承載高;
2)Y軸平移、傾斜、水平旋轉設計了高調節細度的結構,方便客戶更好地找到三個軸的拐點;
3)Z軸可配置數顯裝置,用于螺距顯示。
7. 高性能螺紋環規測量裝置:
配置高性能螺紋環規測量裝置,可測量小螺紋環規,同時可完成極小的光滑環規檢測;測量力為電子測力,由軟件選擇測力大??;
參考環境溫度:(20±1)℃以內,溫度變化不超過0.2℃/h。
相對濕度控制在20%~60%。
校準室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場。
校準實驗室應符合精密儀器實驗室振動等級標準,環境振動≤0.03mm/s;
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